名称：X射线荧光光谱分析仪（XRF）

用途：通过 X 射线激发样品中元素产生特征荧光，实现元素定性（判断元素种类）与定量（测定元素含量）分析，广泛应用于地质矿产、金属冶炼、环境监测、电子制造、考古文物等领域，例如矿石成分检测、土壤重金属分析、镀层厚度测量、古物元素鉴定等。

原理：1.X 射线激发：X 射线管发射高能 X 射线（初级 X 射线）轰击样品，使原子内层电子被激发逸出，形成空穴；

               2.特征荧光产生：外层电子向内层空穴跃迁，释放能量以 X 射线形式发射（次级 X 射线，即特征荧光），其波长由元素原子序数决定（不同元素特征荧光波长唯一）；

               3.光谱检测与分析：分光系统（如晶体衍射）分离不同波长的荧光 X 射线，探测器测定各波长强度；通过比对特征波长确定元素种类，依据强度结合标准曲线计算元素含量。